- PII
- 10.31857/S0033849424050115-1
- DOI
- 10.31857/S0033849424050115
- Publication type
- Article
- Status
- Published
- Authors
- Volume/ Edition
- Volume 69 / Issue number 5
- Pages
- 473-479
- Abstract
- Problem of immunity of the electronic devices under powerful electromagnetic emission as well as mechanism of device response at out-of-band emission influence are discussed. Parameters which characterize level of emission influence on device are indicated. The method of the empirical estimation of threshold level of these parameters, which characterize immunity of device under the influence of ultra-wideband (UWB) emission is proposed.
- Keywords
- сверхширокополосное излучение электронные устройства стойкость к воздействию излучения уровень воздействия
- Date of publication
- 16.09.2025
- Year of publication
- 2025
- Number of purchasers
- 0
- Views
- 4
References
- 1. Foster J.S., Jr., Gjelde E., Graham W.R. et al. Report of the Commission to Assess the Threat to the United States from Electromagnetic Pulse (EMP) Attack. Critical National Infrastructures.Bernan, 2008. 218 p. http://www.empcommission.org/docs/A2473-EMP_Commission-7MB.pdf
- 2. Camp M., Garbe H., Nitsch D. // IEEE Intern. Symp. on EMC. Minneapolis. 19–23 Aug. 2002. N.Y.: IEEE, 2002. P. 87.
- 3. Вдовин В.А., Кулагин В.В., Черепенин В.А. // Электромагнитные волны и электрон. системы. 2003. Т. 8. № 1. С. 64.
- 4. Bäckström M.G., Lövstrand K.G. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 396.
- 5. Nitsch D., Camp M., Sabath F. et.al. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 380.
- 6. Тяпин М.С., Мырова Л.О. // Информ. и телекоммун. технологии. 2006. № 2. С. 20.
- 7. Baum C.E. // IEEE Trans. 2007. V. EMC-49. № 2. P. 211.
- 8. Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба. Силовое поражение радиоэлектронных систем. М.: Вузовская книга, 2007.
- 9. Бобрешов А.М., Дыбой А.В., Коровченко И.С. и др. // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2008. Т. 11. № 3. С. 60.
- 10. Симакин С.В., Ларионенко А.В. // Технологии ЭМС. 2009. № 3. С. 23.
- 11. Hwang S.M., Hong J.I., Han S.-M. // J. Electromagn. Waves Appl. 2010. V. 24. № 8. P. 1059.
- 12. Добыкин В.Д. // РЭ. 2011. Т. 56. № 2. С. 236.
- 13. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2013. № 1. http://jre.cplire.ru/jre/yan13/18/text.pdf
- 14. Усыченко В.Г., Сорокин Л.Н. Стойкость сверхвысокочастотных радиоприемных устройств к электромагнитным воздействиям. М.: Радиотехника, 2017.
- 15. Здухов Л.Н., Парфенов Ю.В., Тарасов О.А., Чепелев В.М. // Технологии ЭМС. 2018. № 2. С. 22.
- 16. Toan N.V., Tung D.M., So J., Lee J.-G. // Adv. Electrical and Computer Engineering. 2019. V. 19. № 2. P. 37.
- 17. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2019. № 2. http://jre.cplire.ru/jre/feb19/13/text.pdf
- 18. ГОСТ Р 51317.2.5–2000. “Совместимость технических средств электромагнитная”. М.: Изд-во стандартов, 2001.
- 19. Electromagnetic Environmental Effects Requirements for Systems. Department of defense interface standard MIL-STD-464C. Washington, 2010. 165 p. https://www.ema3d.com/wp-content/uploads/downloads/MIL-STD-464C.pdf
- 20. ГОСТ 26883–86. Внешние воздействующие факторы. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2008.
- 21. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Технологии ЭМС. 2018. № 4. С. 57.
- 22. Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы. М.: Высш. школа, 1983.
- 23. Осташев В.Е., Ульянов А.В., Федоров В.М. // РЭ. 2020. Т. 65. № 3. С. 234.
- 24. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // РЭ. 2021. Т. 66. № 11. С. 1.
