- PII
- 10.31857/S0033849424020117-1
- DOI
- 10.31857/S0033849424020117
- Publication type
- Article
- Status
- Published
- Authors
- Volume/ Edition
- Volume 69 / Issue number 2
- Pages
- 199-204
- Abstract
- The trace support tools capabilities for a microcontroller (МС) with a Cortex-M3 core are analyzed to investigation of failures arising under the 14 MeV neutrons exposure. It has been shown that in most cases, MC hang is caused by the microcontroller going into a handling an inactive exception infinite loop. The cross-section values for the single event functional interrupt and the single event latch-up are estimated.
- Keywords
- микроконтроллер трассировка тиристорный эффект эффект функционального прерывания нейтрон
- Date of publication
- 16.09.2025
- Year of publication
- 2025
- Number of purchasers
- 0
- Views
- 14
References
- 1. Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
- 2. Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
- 3. РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
- 4. ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
- 5. Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
- 6. Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
- 7. Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
- 8. Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
- 9. Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
