RAS PhysicsРадиотехника и электроника Journal of Communications Technology and Electronics

  • ISSN (Print) 0033-8494
  • ISSN (Online) 3034-5901

The effect of laser radiation on a junction field-effect transistor

PII
S0033849425010092-1
DOI
10.31857/S0033849425010092
Publication type
Article
Status
Published
Authors
Volume/ Edition
Volume 70 / Issue number 1
Pages
82-87
Abstract
Experimental and theoretical studies of the effect of modulated laser radiation on the functioning of a junction field-effect transistor (JFET) as part of an amplifier stage with a common source have been carried out. Patterns in changes in transistor parameters depending on external radiation are determined. It has been established that the cut-off voltage and the specific steepness of the shutter undergo the greatest changes during laser irradiation. It was found that when the transistor structure is irradiated, a photovoltaic effect occurs at the p-n junction of the gate, the concentration of free charge carriers in the semiconductor regions and the channel resistance change. It is shown that the device is sufficiently resistant to laser radiation, which is crucial for creating radiation-resistant integrated circuits.
Keywords
полевой транзистор с управляющим p-n-переходом статические и динамические характеристики лазерное излучение радиационная стойкость
Date of publication
16.09.2025
Year of publication
2025
Number of purchasers
0
Views
20

References

  1. 1. Sze S.M., Ng Kwok K. Physics of Semiconductor Devices. Hoboken: John Wiley & Sons, Inc., 2006.
  2. 2. Citterio M., Kierstead J., Rescia S., Radeka V. // IEEE Trans. 1996. V.NS-43. № 3. P. 1576.
  3. 3. Кильметов Р.С., Кухаренко А.П., Механцев Б.Е., Механцев Е.Б. // Известия ТРТУ. 2000. № 3(17). С. 167.
  4. 4. Дворников О.В., Дятлов В.Л., Прокопенко Н.Н., Чеховский В.А. // РЭ. 2017. Т. 62. № 10. С. 1031.
  5. 5. Prokopenko N.N., Pakhomov I.V., Zhuk A.A. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2020. V. 862. № 3. Article No. 032109.
  6. 6. Vikulin I.M., Vikulina L.F., Gorbachev V.E., Mikhailov N.S. // Radioelectronics and Commun. Systems. 2021. V. 64. № 6. P. 310.
  7. 7. Takeyama A., Makino T., Tanaka Y. et al. // Quantum Beam Sci. 2023. V. 7. № 4. P. 31.
  8. 8. Рехвиашвили С.Ш., Нарожнов В.В. Способ повышения быстродействия транзисторов и транзисторных интегральных схем. Патент РФ № 2799113. Опубл. офиц. бюл. «Изобретения. Полезные модели» № 19 от 04.07.2023.
  9. 9. Альтудов Ю.К., Гаев Д.С., Псху А.В., Рехвиашвили С.Ш. // Микроэлектроника. 2023. T. 52. № 6. С. 489.
  10. 10. Володин В.Я. LTspice: компьютерное моделирование электронных схем. СПб.: БХВ-Петербург, 2010.
  11. 11. Разевиг В.Д. Применение программ P-CAD и PSpice для схемотехнического моделирования на ПЭВМ. Выпуск 2. М.: Радио и связь, 1992.
  12. 12. Shichman H., Hodges D.A. // IEEE J. Solid-State Circuits. 1968. V. 3. № 3. P. 285.
  13. 13. Antognetti P., Massobrio G. Semiconductor Device Modeling with Spice. N. Y.: McGraw-Hill, Inc., 1993.
  14. 14. Дворников О., Шульгевич Ю. // Современная электроника. 2009. № 8. С. 50.
  15. 15. Goncalves D., Fernandes L.M., Louro P. et al. // Proc. 4th Doctoral Conf. on Computing, Electrical and Industrial Systems (DoCEIS), 15–17 Apr. 2013. Costa de Caparica. Heidelberg: Springer, 2013. P. 547.
  16. 16. Мармур И.Я., Новиков Ю.Б., Оксман Я.А. // ФТП. 1988. Т. 22. № 1. С. 87.
  17. 17. Kavangary A., Graf P., Azazoglu H. et al. // AIP Advances. 2019. V. 9. № 2. Article No. 025104.
QR
Translate

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Higher Attestation Commission

At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation

Scopus

Scientific Electronic Library