Представлены результаты формирования ячеистых микроструктур в диэлектрических пленках ферритов-гранатов с использованием локальной модификации поверхности (травления) пленок с помощью сфокусированного ионного пучка. Показано, что для компенсации возникающего в процессе травления поверхностного заряда в ферритах-гранатах эффективно использование сканирующего электронного микроскопа одновременно при работе с ионной колонной, причем без предварительного напыления на пленку дополнительного проводящего слоя. Для реализации внутри ячеек монодоменного состояния глубина травления должна составлять более половины исходной толщины пленки, а при выборе латеральных размеров ячеек необходимо учитывать размеры исходной доменной структуры в пленке.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации