Статьи автора

О причинах низкого критического тока в двойниковых пленочных высокотемпературных сверхпроводниках

Номер выпуска 1 от 16.09.2025

С помощью осцилляционной дифференциальной методики локального приближения исследовано влияние внутренних локальных и внешних полей размагничивания на величину плотности критического тока междвойниковых джозефсоновских слабых связей J_c высокотемпературных сверхпроводниковых образцов YBCO. В режимах охлаждения в нулевом поле и охлаждения в нулевом поле с накоплением потока для образцов с разными J_c и размерами двойников d измерены поля размагничивания образцов H_р1 и H_р2. Определены значения: d; термодинамических первых критических магнитных полей двойников H_тк1; полей размагничивания двойников H_рд; плотности внутридвойниковых эффективных критических токов J_{c эф}; критических токов пиннинга J_{c п} и экранирующих мейснеровских критических токов J_{c М}. Показано, что при полях H_тк1 двойники больших размеров скачкообразно «распадаются» на группу двойников меньших размеров с близкими размагничивающими факторами. Обнаружено, что увеличение J_{c М}, J_{c эф} и уменьшение d приводят с одной стороны к снижению J_c из-за увеличения поля размагничивания образца H_р и H_{р д}, созданного J_{c эф} и J_{c М}, с другой стороны – к усилению J_{c эф} и J_{c М} за счет уменьшения d.

16 0