- Код статьи
- 10.31857/S0033849424020117-1
- DOI
- 10.31857/S0033849424020117
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 69 / Номер выпуска 2
- Страницы
- 199-204
- Аннотация
- Проанализированы возможности средств поддержки трассировки микроконтроллера с ядром Cortex-M3 для исследования сбоев, возникающих при облучении нейтронами с энергией 14 МэВ. Показано, что в большинстве случаев зависание вызвано переходом микроконтроллера в бесконечный цикл обработки неактивного исключения. Оценено значение сечения эффекта функционального прерывания и тиристорного эффекта.
- Ключевые слова
- микроконтроллер трассировка тиристорный эффект эффект функционального прерывания нейтрон
- Дата публикации
- 16.09.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 16
Библиография
- 1. Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
- 2. Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
- 3. РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
- 4. ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
- 5. Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
- 6. Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
- 7. Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
- 8. Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
- 9. Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
