- PII
- 10.31857/S0033849423120197-1
- DOI
- 10.31857/S0033849423120197
- Publication type
- Status
- Published
- Authors
- Volume/ Edition
- Volume 68 / Issue number 12
- Pages
- 1221-1229
- Abstract
- The mechanisms of reversible and irreversible failures that occur in microwave semiconductor devices, microcircuits, and microprocessors under the action of powerful electromagnetic pulses, either single or periodic, are analyzed. It is shown that, in microprocessors, failures of both types are generated by the electrothermal instabilities, which develop in negligibly small volumes of a device. The dependences of the threshold energy of failures on the pulse amplitude, length, and repetition rate are explained. The results of the calculation are consistent with the experimental data.
- Keywords
- Date of publication
- 16.09.2025
- Year of publication
- 2025
- Number of purchasers
- 0
- Views
- 14
References
- 1. Рикетс Л.У., Бриджес Дж., Майлетта Дж. Электромагнитный импульс и методы защиты. М.: Атомиздат, 1979.
- 2. Whalen J.J., Calcatera M.C., Thorn M.L. // IEEE Trans. 1979. V. MTT-27. № 12. P. 1026.
- 3. Wunsh D.C., Bell R.R. // IEEE Trans. 1968. V. NS-15. № 6. P. 244.
- 4. Taska D.M. // IEEE Trans. 1970. V. NS-17. № 6. P. 364.
- 5. Arkhipov V.I., Astvatsaturyan E.R., Godovitsyn V.I., Rudenko A.I. // Int. J. Electronics. 1983. V. 55. № 3. P. 395.
- 6. Абидов М.А. Статические характеристики диодных структур. М.: Радио и связь, 1989.
- 7. Dwyer V.M., Franklin A.J., Campbell D.S. // Solid-State Electronics. 1990. V. 33. № 5. P. 553.
- 8. Усыченко В.Г., Сорокин Л.Н. Стойкость сверхвысокочастотных радиоприемных устройств к электромагнитным воздействиям. М.: Радиотехника, 2017.
- 9. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. // РЭ. 2011. Т. 56. № 3. С. 370.
- 10. Nitsch D., Camp M., Sabath F. et al. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 380.
- 11. Юшков Ю.Г., Чумерин П.Ю., Артеменко С.Н. и др. // РЭ. 2001. Т. 46. № 8. С. 1020.
- 12. Hoad R., Carter N., Herke D., Watkins S. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 390.
- 13. Camp M., Garbe H. // IEEE Trans. 2006. V. EMC-48. № 4. P. 829.
- 14. Усыченко В.Г., Сасункевич А.А., Сорокин Л.Н. // РЭ. 2016. Т. 61. № 5. С. 484.
- 15. Сасункевич А.А., Сорокин Л.Н., Усыченко В.Г. // РЭ. 2016. Т. 61. № 7. С. 702.
- 16. ГОСТ Р 51317.2.5–2000. Совместимость технических средств электромагнитная. Электромагнитная обстановка. Классификация электромагнитных помех в местах размещения технических средств. М.: Госстандарт России, 2001. https://meganorm.ru/Data/109/10975.pdf.
- 17. Усыченко В.Г., Сорокин Л.Н., Усыченко А.С. // РЭ. 2020. Т. 65. № 12. С. 1234.
- 18. Зи С. Физика полупроводниковых приборов. Кн. 1. М.: Мир, 1984.
- 19. Самарский А.А., Галактионов B.А., Курдюмов C.П., Михайлов А.П. Режимы с обострением в задачах для квазилинейных параболических уравнений. М.: Наука, 1987.
- 20. Сасункевич А.А., Сорокин Л.Н., Усыченко В.Г. // РЭ. 2013. Т. 58. № 6. С. 635.
